Sobre o equipamento

Estrutura utilizada para realização de ensaios de Compatibilidade Eletromagnética.

Estrutura que possibilita a obtenção de um ambiente de testes controlado, sem a incidência de perturbações eltromagnéticas existentes no ambiente. Da mesma forma evita que os sinais gerados no seu interior se propaguem para o ambiente. Em conjunto com instrumentação necessária para geração e medição de sinais de radiofrequência permite a realização de ensaios de compatibilidade eletromagnética para sistemas eletroeletrônicos.

ENSAIO NORMA
Emissão Conduzida – Método da Tensão CISPR 25 ed. 3 – 2008 – 03NBR IEC/CISPR 25 – 2010
Emissão Radiada – Método Câmara Semianecóica CISPR 25 ed. 3 – 2008 – 03NBR IEC/CISPR 25 – 2010
Imunidade Conduzida – Método BCI ISO 11452-1 NBR ISO 11452-1ISO 11452-4
Imunidade Radiada – Método ALSE ISO 11452-1 NBR ISO 11452-1ISO 11452-2
Emissão Conduzida – Método da Corrente CISPR 25 ed. 3 – 2008 – 03NBR IEC/CISPR 25 – 2010
Descarga Eletrostática ISO 10605 ISO 10605
Transitórios Elétricos Conduzidos em Linhas de Alimentação – Imunidade ISO 7637-1 ISO 7637-2 ISO 7637-2
Transitórios Elétricos Conduzidos em Linhas de Alimentação Pulso 4 (Starting Profile) e Pulso 5 (Load Dump) ISO 16750-1 ISO 16750-2 ISO 7637-2
Transitórios Elétricos Conduzidos em Linhas de Alimentação – Emissão ISO 7637-1 ISO 7637-2
Transmissão de Transitórios Elétricos por Acoplamento Capacitivo e Indutivo ISO 7637-1 ISO 7637-3

Contato

  • Mariana Inah
  • (71) 3879-5432

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